كلية التربية ابن الهيثم تناقش ثلاث طرق تحليل لتصحيح الخطوط الجانبية لحيود الاشعة السينية
ناقش قسم الفيزياء في كلية التربية للعلوم الصرفة /ابن الهيثم بجامعة بغداد رسالة الماجستير الموسومة (التصحيح للخطوط الجانبية لحیود الاشعة السینیة باستعمال ثلاث طرق تحليل) للطالبة رشا منير جلاب شفيق.
تناولت الرسالة طريقة ويليامسون-هال و طريقة رسم الحجم-الانفعال و طريقة هالدر- واكنر لتحليل خطوط حيود الأشعة السينية لتحديد حجم البلورات و انفعال الشبيكة لجسيمات أوكسيد النيكل النانوية ثم مقارنة نتائج طرق ويليامسون-هال ورسم الحجم-الانفعال و هالدر-واكنر مع طريقة شيرر و طريقة شيرر المطورة.),كثافة الطاقة = )نيوتن\متر2 استخدم القطع لحساب كثافة الطاقة و اعطى نفس القيمة .
كما أوصت الباحثة بحساب الحجم البلوري لثلاث درجات حرارة 200 درجة مئوية ، 300 درجة مئوية ، 400 درجة مئوية للخطوط الجانبية(111 ،200 ) ، تتناقص القيم تدريجياً للخط (111) ، عند 200 درجة مئوية هو(0.34174 نانومتر) ، عند 300 درجة مئوية هو(0.32985 نانومتر) ، وعند 400 درجة مئوية هو (0.32160 نانومتر). انخفضت القيم للخط (200) ثم ازدادت للضعف. الحجم البلوري عند 200 درجة مئوية هو (0.49210 نانومتر) ، و 300 درجة مئوية هو (0.45336 نانومتر) ، وعند 400 درجة مئوية هو (0.83588 نانومتر).