كلية التربية ابن الهيثم تناقش دراسة خصائص التركيب البلوري لمواد مختلفة باستعمال حيود المسحوق للأشعة السينية
ناقش قسم الفيزياء في كلية التربية للعلوم الصرفة /ابن الهيثم بجامعة بغداد رسالة الماجستير الموسومة (دراسة خصائص التركيب البلوري لمواد مختلفة باستعمال حيود المسحوق للأشعة السينية وطريقة تصفية ريتفيلد) للطالبة أمل جاسم عباس جاسم.
هدف البحث الى بيان اهمية استخدام تصفية ريتفيلد في استخدام الاشعه السينية فالهدف الرئيس هو تحسين الهياكل البلورية وليس التشكيلات الجانبية.
كما تضمن دراسة الخصائص التركيبية لكل من المركبات النانوية الاتية مع عيناتها الموجودة, فقد تمت دراسة الخصائص التركيبية للمركب النانوي Ba1-x Srx Ti O3 للتراكيز الآتية , X= 0 , 0.26 , 0.28 , 0.3 , 0.32 ,0.34 المحضرة مسبقا بطريقة السول_ جل ،باستعمال تقنية فحص حيود الاشعة السينية واستعمال الفهرسة البرمجية باستعمال برنامج Fullprof
وخلصت الطالبة الى توصيات عديدة منها إجراء تصفية ريتفيلد باستعمال برامج ثانية ونقارن النتائج بالنتائج التي حصلنا عليها في برنامج ودراسة التركيب المغناطيسي ( magnetic structure ) باستعمال تصفية ريتفيلد للعناصر نفسها فضلا عن دراسة تصفية ريتفيلد باستعمال عينات حيود النيوترونات TOF/2Ө.
